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Buchumschlag von On the nature of dislocation loops in As-implanted and postannealed Si wafers
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On the nature of dislocation loops in As-implanted and postannealed Si wafers

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Applied Physics
Personen und Körperschaften: Pavlidis, P., Economou, N. A., Christou, A.
In: Journal of Applied Physics, 48, 1977, 8, S. 3612-3613
Format: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
AIP Publishing
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