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Buchumschlag von Optimization of the radiation hardness of silicon pixel sensors for high x-ray doses using TCAD simulations
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Optimization of the radiation hardness of silicon pixel sensors for high x-ray doses using TCAD simu...

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Journal of Instrumentation
Personen und Körperschaften: Schwandt, J, Fretwurst, E, Klanner, R, Pintilie, I, Zhang, J
In: Journal of Instrumentation, 7, 2012, 1, S. C01006-C01006
Format: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
IOP Publishing
Schlagwörter: