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Buchumschlag von Damage induced by pions in silicon detectors
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Damage induced by pions in silicon detectors

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Nuclear Physics B - Proceedings Supplements
Personen und Körperschaften: Bates, S
In: Nuclear Physics B - Proceedings Supplements, 44, 1995, 1-3, S. 510-519
Format: E-Article
Sprache: Unbestimmt
veröffentlicht:
Elsevier BV
Schlagwörter: