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Reflectance anisotropy spectroscopy and the growth of low-dimensional materials
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Thin Solid Films |
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Personen und Körperschaften: | , |
In: | Thin Solid Films, 318, 1998, 1-2, S. 140-147 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Elsevier BV
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Schlagwörter: |