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Buchumschlag von Looking down the Nose Through Large Block-Face (2D) and Serial Section Array (3D) Scanning Electron Microscopy
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Looking down the Nose Through Large Block-Face (2D) and Serial Section Array (3D) Scanning Electron...

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Bibliographische Detailangaben
Zeitschriftentitel: Microscopy and Microanalysis
Personen und Körperschaften: Joubert, L.-M., Bravo, D.T., Nayak, J.V.
In: Microscopy and Microanalysis, 19, 2013, S2, S. 112-113
Format: E-Article
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
Oxford University Press (OUP)
Schlagwörter: