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Temperature dependence of electron-capture aftereffects in the semiconductorIn2O3
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Physical Review B |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , |
In: | Physical Review B, 29, 1984, 2, S. 1109-1111 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
American Physical Society (APS)
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