Eintrag weiter verarbeiten
Structured illumination microscopy: artefact analysis and reduction utilizing a parameter optimizati...
Gespeichert in:
| Zeitschriftentitel: | Journal of Microscopy |
|---|---|
| Personen und Körperschaften: | , , |
| In: | Journal of Microscopy, 216, 2004, 2, S. 165-174 |
| Format: | E-Article |
| Sprache: | Englisch |
| veröffentlicht: |
Wiley
|
| Schlagwörter: |